膜厚測試儀準直器規(guī)格

 

　　對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

 

　　膜厚測試儀是一款于檢測各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以內的異形件具備巨大的優(yōu)勢。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

 

　　隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用X射線鍍層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

 

　　膜厚測試儀準直器規(guī)格

 

　　1.可選單準直器、多準直器；

 

　　2.多準直器程控交換；

 

　　3.可選園形、矩形準直器；

 

　　4.園形準直器：0.1、0.15、0.2、0.3、0.33、0.5mm；

 

　　5.矩形準直器：0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.051x0.254、0.102x0.406mm；

 

　　6.單準直器標配：0.3mm；

 

　　7.雙準直器標配：0.1、0.3mm；

 

　　8.四準直器標配：0.15、0.3、0.05x0.05、0.051x0.254mm。